陆仁建扫描电镜样品制备流程图解

纳瑞科技（北京）有限公司(Ion Beam Technology Co.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。

扫描电镜（SEM）是一种广泛用于表征材料微观结构的高分辨率的显微镜。SEM技术可以通过扫描样品表面或薄膜，获取高分辨率的二维或三维图像，以研究材料的组成和结构。在SEM样品制备过程中，正确的操作步骤是确保样品能够清晰地显示在SEM上，从而得到高质量的图像。本文将介绍扫描电镜样品制备的流程图解。

1. 样品准备

需要从待测材料中取出一定数量的样品。样品的大小和形状应适合于SEM成像需求。在取样过程中，要确保样品的表面干净，无气泡和污垢。

2. 样品封装

将取出的样品装入合适的样品瓶中。为了保持样品的完整性，应在取样后立即将样品瓶封好。样品瓶的大小应与SEM样品池相匹配，这样样品才能更容易地放入SEM仪器中。

3. 样品预处理

在将样品放入SEM仪器之前，需要进行预处理以提高样品的质量和对比度。预处理步骤包括：

- 用刮刀或镊子轻轻刮去样品表面的污垢，以使样品表面干净。
- 用干净的玻璃片将样品表面抹平，以避免气泡。
- 将样品瓶正置，以避免样品表面产生弯曲或变形。

4. 样品加载

将样品瓶放入SEM仪器中的样品池。此时，要确保样品瓶的底部紧贴样品池底部，以避免样品在SEM过程中产生振动或移动。

5. 样品成像

启动SEM仪器，将扫描电极对准样品表面。在扫描过程中，观察SEM仪器中的图像，确保样品能够清晰地显示在SEM上。

6. 样品分析

在完成样品成像后，可以对样品进行分析。分析步骤包括：

- 确定样品的元素组成，如碳、氢、氮等。
- 分析样品的微观结构，如晶体结构、层状结构等。

7. 样品卸载

在分析完成后，需要将样品从SEM仪器中取出。此时，要确保样品瓶的底部仍然紧贴样品池底部，以避免样品在取卸过程中产生振动或移动。

8. 样品存放

将取卸下的样品放回样品瓶中，并将样品瓶放回架子上。在存放过程中，要避免样品受到其他物体的压力，以保证样品的完整性。

扫描电镜样品制备过程需要仔细操作，确保样品能够清晰地显示在SEM上。正确的操作步骤将有助于获得高质量的SEM图像，从而为材料研究和分析提供重要依据。